検査・測定装置

表面形状測定機、波面センサー、光伝搬損失測定装置等、様々な検査・測定装置を提案致します。

韓国SNU Precision社の三次元形状測定機は、白色汗渉型の測定機です。段差や突起物の形状・高さなど表面形状を0.1nmの分解能にて測定します。

米国APC社の圧電特性測定器を提案致します。
広範囲のd33値を高分解能高い信頼性で測定致します。

仏Phaseview社の3次元測定デバイスを提案致します。
お手持ちの顕微鏡に取り付けるだけでナノレベルの3次元測定を実現致します。

仏Phaseview社のデジタル波面センサーは、同社特許のデジタルフェーズ分析アルゴリズムにより、1000ピクセル×1000ピクセル以上の高い横分解能にて波面測定のリアルタイム測定を可能とする波面センサーです。

独Nagy社の非接触表面抵抗測定器を提案致します。
基板上に成膜された導電膜の抵抗値を非接触、オンラインで測定します。

韓国サイロンテクノロジー社のプリズムカラーです。
±0.01dB/cmの精度で光伝搬損失を測定します。
また、サンプルを回転させながら、光複屈折率の変移を解析致します。

米 Microptics社のi-labは持ち運び可能なポータブル分光光度計です。各種の環境で分光測定および記録を行うことができます。

米Sigmatec社の非接触で基板厚み/TTV/TIR/BOW/WARP、平坦度の測定が可能な非接触基板厚み測定器を提案致します。

ドイツIntego社が製造する太陽電池ウェハ・セル用の非接触マイクロクラック検出装置。従来の測定器では難しかった結晶粒界とマイクロクラックの識別が可能。R&D用のスタンドアローン装置から、コンベア上に検査部を統合したインラインタイプをラインアップ。

ビームプロファイラーBeamWaveは稼動パーツ及び追加の機器無しにレーザービームの輝度分布、波面を測定することができ、ワンショット測定でM2、すべての面の輝度分布、発散角、レイリーレンジなどを計測します。

Low-Eガラス、断熱材等の熱放射率を簡易かつ正確に測定いたします。

MPS社の薄膜測定システムはシンプルな構成で高精度の膜厚測定を可能としております。

Nova社非破壊検査装置は、自社開発した世界でもっとも小型な渦電流式及び漏洩磁束式のコンビネーションセンサーを搭載した、携帯性に優れた非破壊検査装置です。

Phaseview社のWave Gauge レンズ特性測定装置は、Phaseview社が開発した波面センサーを使用したレンズ測定器です。コンタクトレンズ、眼内レンズ（IOL）、非球面レンズ、マイクロレンズやピックアップレンズの各種光学パラメーター測定が行えます。

ラインアップ