計測・検査装置

最新式のサーティファイアーのほか、サブストレート・ディスク検査用各種テストヘッドをご紹介致します。

米国MRS社は、量産用のハードディスクサーティファイアーに加え、半導体用ウェハー検査装置、光学用コンポーネントテスト装置等を製造しています。同社装置は、コストの低減と最先端技術による品質の高さを特徴としています。

韓国NOVA社の各種テストヘッドを提供致しております。
お客様からの特殊なニーズに迅速に対応するようウエハからHGA組立まで一貫したプロセスで製造しています。

MPS社の薄膜測定システムはシンプルな構成で高精度の膜厚測定を可能としております。

Phaseview社のWave Gauge レンズ特性測定装置は、Phaseview社が開発した波面センサーを使用したレンズ測定器です。コンタクトレンズ、眼内レンズ（IOL）、非球面レンズ、マイクロレンズやピックアップレンズの各種光学パラメーター測定が行えます。

ラインアップ