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オプティカル測定・検査装置

光複屈折率/光導波損失測定装置、顕微鏡用三次元形状測定装置・デジタルウェーブフロントセンサー等の光学式検査・測定装置をご紹介致します。

i-Lab ポータブル分光光度計

i-Lab ポータブル分光光度計

米 Microptics社のi-labは持ち運び可能なポータブル分光光度計です。各種の環境で分光測定および記録を行うことができます。

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光複屈折率・光導波損失・膜厚測定装置 SPA-4000

光複屈折率・光導波損失・膜厚測定装置 SPA-4000

韓国サイロンテクノロジー社のプリズムカラーです。
±0.01dB/cmの精度で光伝搬損失を測定します。
また、サンプルを回転させながら、光複屈折率の変移を解析致します。

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圧電特性測定器 広域 d33テスター

圧電特性測定器 広域 d33テスター

米国APC社の圧電特性測定器を提案致します。
広範囲のd33値を高分解能高い信頼性で測定致します。

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顕微鏡用3次元測定デバイス

顕微鏡用3次元測定デバイス

仏Phaseview社の3次元測定デバイスを提案致します。
お手持ちの顕微鏡に取り付けるだけでナノレベルの3次元測定を実現致します。

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高分解能波面センサ

高分解能波面センサ

仏Phaseview社のデジタル波面センサーは、同社特許のデジタルフェーズ分析アルゴリズムにより、1000ピクセル×1000ピクセル以上の高い横分解能にて波面測定のリアルタイム測定を可能とする波面センサーです。

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非接触基板厚み測定器

非接触基板厚み測定器

米Sigmatec社の非接触で基板厚み/TTV/TIR/BOW/WARP、平坦度の測定が可能な非接触基板厚み測定器を提案致します。

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太陽電池ウェハ・セル 非接触マイクロクラック検査装置

太陽電池ウェハ・セル 非接触マイクロクラック検査装置 / ANTARES

ドイツIntego社が製造する太陽電池ウェハ・セル用の非接触マイクロクラック検出装置。従来の測定器では難しかった結晶粒界とマイクロクラックの識別が可能。R&D用のスタンドアローン装置から、コンベア上に検査部を統合したインラインタイプをラインアップ。

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ビームプロファイラー BeamWave

ビームプロファイラー BeamWave / ビームプロファイル及びM2測定

ビームプロファイラーBeamWaveは稼動パーツ及び追加の機器無しにレーザービームの輝度分布、波面を測定することができ、ワンショット測定でM2、すべての面の輝度分布、発散角、レイリーレンジなどを計測します。

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熱放射率測定装置

熱放射率測定装置

Low-Eガラス、断熱材等の熱放射率を簡易かつ正確に測定いたします。

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