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非接触基板厚み測定器

非接触基板厚み測定器
製造:Sigmatech Inc.[米国]

米Sigmatec社の非接触で基板厚み/TTV/TIR/BOW/WARP、平坦度の測定が可能な非接触基板厚み測定器を提案致します。

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特長

2本のセンサープローブをウエハ表面、裏面へ同時に近づけて測定を行うため、1度に表面裏面の情報が得られます。①白色光センサープローブ(色の波長により焦点距離が異なる原理を用いて測定)②空圧検知式センサプローブ 両タイプ共、基板状態(透過、反射、導電性有無、ポリッシュ有無、湿気有無)に影響されず正確な値が得られます。 GaAs、GaN、SiC、サファイヤ、ガラス基板測定向きです。 校正サンプル不要のマニュアルタイプから、セミオートタイプ、フルオートタイプまで豊富なラインアップ。

適用

化合物半導体、半導体/基板厚み測定装置

お問合せ先 情報部門
  TEL:03-5472-1721 FAX:03-5472-1720
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