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顕微鏡用3次元測定デバイス

顕微鏡用3次元測定デバイス
製造:Phaseview[フランス]

仏Phaseview社の3次元測定デバイスを提案致します。
お手持ちの顕微鏡に取り付けるだけでナノレベルの3次元測定を実現致します。

メーカーサイト  

特長

高精度のウエーブフロント測定
Phaseview社パテントの3次元解析技術
追加のパーツの購入の必要なし
簡便なセットアップ及び操作性
コヒーレント光使用の必要なし
測定時間10秒以内
ナノレベルの測定精度
非常にシンプルな構成による低価格
振動等環境の影響が少ない

仕様

対物レンズ倍率 5x 10x 20x 50x 100x
ワーキングディスタンス, mm 23.5 17.5 4.5 1 1
開口数(NA) 0.15 0.3 0.45 0.8 0.9
測定エリア (X,Y), mm2 1.3 x 1.0 0.66 x 0.53 0.33 x 0.27 0.13 x 0.10 0.065 x 0.05
横方向分解能 (X,Y), μm 2.8 1.4 0.9 0.5 0.4
GetPhase® (GP)* /
GetPhase® Extended (GPE)**
GP GPE GP GPE GP GPE GP GPE GP GPE
最大斜度(角度) 8 89 16 89 24 88 38 84 42 78
Z方向測定レンジ, μm 35 100
0
9 250 4 62.5 1.1 10 0.8 2.5
Z方向分解能, μm 0.35 6.9 0.09 1.7 0.04 0.7 0.01
1
0.2 0
8
0.17
測定ポイント数 1.3 メガピクセル (1280 x 1024 pixel array)
測定時間 < 10
顕微鏡取付部 Cマウント
サイズ(L x W x H), mm 120 x 74 x 173
重量, kg 2.2
お問合せ先 情報部門
  TEL:03-5472-1721 FAX:03-5472-1720
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