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その他／検査・測定／製紙プロセス

地合計／3Dシートアナライザー

製造：Mk systems / 米国

光透過型光学式地合計です。点光源ドラムスキャン式で測定毎に校正されるので、測定結果は官能地合評価と高く相関します。

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製品の特長

・光学式地合計。透過式又は反射式。
・フィルム、紙の厚さに応じ、光源強度の自動校正が行われ、坪量違いに左右されずに地合指数として相対評価
・地合指数測定モード：100,000点のデータをヒストグラム評価
・フロック測定モード：65,536点のデータを階級別に色分けし、イメージ画像表示
・官能テストとの相関高い
・RS232シリアルデータ出力

※デモ機あり

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