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製品

検査・測定

Onyx - 非接触/非破壊式 キャリア移動度測定装置

製造:Das Nano SL (スペイン)

Onyxは、テラヘルツ波技術を活用した非接触・非破壊の電気特性評価システムで、材料の性能を高精度で測定します。従来の接触型や破壊的な測定方法に代わり、グラフェン、2D材料、半導体、バッテリーなど、さまざまな先進材料の特性を損傷なく評価することができます。Onyxは、0.5 mm²から数平方メートルの広範囲にわたり、サンプルの詳細な電気的特性を高速でマッピングし、研究から産業規模の製造へとスムーズに移行をサポートします。これにより、材料科学の進展を加速し、製品の性能や効率の向上に寄与します。

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製品の特長

  • 1.非接触・非破壊測定:材料を損傷することなく電気特性を測定できるため、サンプルの変更や汚染のリスクがありません。
    2.高精度な電気特性評価:テラヘルツ波技術を使用し、最大50µmの高空間分解能で微細な電気特性の変化を正確に捉えます。
    3.広範囲の測定対応:0.5 mm²から数平方メートルの広い範囲まで、迅速に全領域をスキャンして特性評価が可能です。
    4.高速処理能力:1分間で最大12 cm²の表面を評価できる超高速処理が可能、効率的なデータ取得を実現します。
    5.汎用性:研究開発から製造までさまざまな産業分野に対応し、下記のような多様な材料の評価に適しています。
    6.研究と産業の橋渡し:研究から産業規模の生産へスムーズに移行できるため、開発から量産までのプロセスを最適化します。

 

 

製品の適用例

グラフェン、半導体、ガラス、エレクトロニクス、セルロース、各種金属、様々な材質の2D基板(ITO, GaN, NbC, IZO, ZnO, PEDOT…等)他

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